Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con piattaforma a tecnologia intelligente (Intelligence Technology, IT)
JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente e direttore operativo Izumi Oi) ha annunciato di avere sviluppato versioni per scansioni semi in obiettivo (i)/(is) ottimali per l’osservazione dei dispositivi semiconduttori del microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo Schottky JSM-IT800 (lanciato nel maggio 2020), la cui vendita ha avuto inizio ad agosto 2021.
Scenario dello sviluppo
I microscopi elettronici a scansione (scanning electron microscope, SEM) vengono usati in un’ampia gamma di campi tra cui nanotecnologia, metalli, semiconduttori, ceramiche, medicina e biologia.